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可控硅通态压降测试台

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详细说明

    一、产品简介

该测试系统是晶闸管静态参数检验测试中不可缺少的专用测试设备。

该套测试设备主要有以下几个单元组成:

1)门极触发参数测试单元

2)维持电流测试单元

3)阻断参数测试单元

4)通态压降参数测试单元

5)电压上升率参数测试单元

6)擎住电流

7)门极电阻

8)计算机控制系统

9)合格证标签打印

10)夹具单元;包含平板夹具和模块夹具

二、技术条件

主要技术指标:

2.1 门极触发电压/门极触发电流测试单元IGT/VGT

1.阳极电压:12V;

2.阳极串联电阻:6Ω;

3.门极触发电压:0.3~5.00V±3%±10mV;

4.门极触发电流:2~450mA±3%±1 mA;

2.2 维持电流测试单元IH

1. 阳极电压:12V;

2.预导通电流: >10A,正弦衰减波;

3.维持电流: 2~450mA ±5%±1 mA;

4.测试频率:单次;

2.3 通态压降测试单元VTM

1.平板器件通态电流:0.10~5.00kA,分辨率:0.01kA,精度±1 0A±5%;

2.模块器件通态电流:0.10~2.00kA,分辨率:0.01kA,精度±1 0A±5%;

3. 电流上升沿时间:≥5ms;

4. 通态压降测试范围: 0.20~10.00V, 分辨率:0.01V,精度±0.1 V±5%;

5. 测试频率:单次;

2.4 断态电压/断态漏电流VD/ID;反向电压/反向漏电流VR/IR测试单元

 
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