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西安智盈电气科技有限公司
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半导体器件测试仪

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详细说明

    功能概述

3-1测试功能范围

该套测试设备主要可测试以下参数：

1.门极参数测试：VGT、IGT

2.维持电流测试：IH

3.阻断参数测试：本测试单元可用以测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及整流二极管的VRRM、IRRM等参数。

4.压降单元

本测试单元用来测量晶闸管、整流管的VTM、ITM、VFM、IFM等参数。

5、电压上升率参数测试：dv/dt

6、擎住电流IL

7、门极电阻：适合门极触发电压在0.95V以上器件测试

3-2、测试方法和测试准则及原理满足 IEC 60747-6-2000 中关于晶闸管测试的具体规定。

 
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张女士 女士 (销售)  
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